RSA5065N 搭配天线进行测试

在复杂电子系统快速向小型化、高集成化演进的浪潮下，电磁干扰问题正在变得愈发严格且难以预测。无论是 sensitive 精密设备、还是高速通信模块，EMI（电磁干扰）带来的串扰、传导、性能紊乱等风险，都急需通过一种强有力的手段减弱外部电磁波对设备的侵入影响。

于是，电磁屏蔽材料成为筑起第一道防线的核心。但问题也随之而来：

不同工作频段对材料屏蔽能力的要求并不相同

不同材料体系（铜铝箔、导电涂层、磁性复合物等）对波形表现各异

传统屏蔽评估方法低效、难量化、易受干扰

那么，到底怎么去科学评估一块屏蔽材料在电磁干扰下的“实战表现”？

📍项目背景：从“理论屏蔽”到“可测可比”：我们开启了一次频谱测试实验

本项目的需求实际又标准：客户需要选型一款用于通信设备腔体的屏蔽材料，要求其在数十 MHz 至数GHz 范围内具备稳健的衰减特性，且材料需适用于轻量化制备。

在咨询常规屏蔽测试方法（如插入损耗法、双室法）后，我们最终决定选择“频谱分析仪+自由场设置”的方式，结合数字记录系统，精确测量频率响应下的屏蔽效能（SE）。

🎯 测试挑战：

在实施过程中我们总结出了3点关键挑战：

发射与接收链路初始信号一致性难控制，基线不稳定将直接影响 SE 可比性

待测材料反射/吸收差异造成指数级强度衰减，仪器噪声低、灵敏度高是关键

多频扫描下测试效率要求高，结果需图形化展示，适配材料频响特性

🔧 解决方案：RIGOL RSA5065N 构建频域定量分析平台

本次测试使用了 RIGOL RSA5065N 实时频谱分析仪，并搭配宽频天线与屏蔽室，构建了从信号发射、穿透屏蔽层、到接收分析的完整自由场测量链路。

RSA5065N的技术优势体现在三个维度：

✅ 高带宽支持：频率覆盖 9 kHz–6.5 GHz，一台仪器即可完整覆盖 EMI 常见频段✅ 微弱信号解调：-165 dBm/Hz 的底噪表现确保能感知被屏蔽后的极低信号✅ 实时谱线 + 数据接口：可快速绘制 SE 曲线图，并支持自动保存测量数据

📈 测试流程复现：

Step 1：系统自校准在不放置屏蔽材料的状态下，进行多频点基线记录，并建立噪声层识别阈值。这组数据将作为“零屏蔽”状态下的参考信号强度。

Step 2：添加待测材料将不同材质的屏蔽样片（如：导电布、石墨烯涂层、金属网、碳基树脂板）放置在发射-接收路径中。布设角度保持一致，避免界面反射偏差。

Step 3：运行自动测量程序通过 RSA5065N 自动执行多频段扫描操作，导出当前频点的接收功率，并与参考值比对，计算各点屏蔽效能（SE = S_reference - S_measured）。

Step 4：结果可视化仪器内置图形界面自动绘制“屏蔽效能 vs 频率”曲线，帮助工程师判断材料频带响应特性。可直观看出屏蔽带宽、3dB/10dB 下降点等关键表征。

📉 测试样例片段：

在实际例证中，石墨烯导电涂层在 1 GHz 附近表现优异，屏蔽效能达到 51 dB；而某款导电布在 500 MHz 时段仅实现约 22 dB，对应实际场景可能无法满足 4G模块抗干扰标准。

🚀 带给工程师的价值：

低门槛构建实验：RSA5065N 集成度高，无需复杂信号源链路即可执行测量

横向比较性强：同一测试机制下，各类材料现出真实“频域差异”

EMC合规性辅助：相关频段 SE 可与法规指标（如CISPR）直接对照

用于教学、选型、研发初期材料筛查阶段，极具示范性

🌟 总结与展望：

频谱分析仪不仅是一台调试仪器，也可以成为工程师理解“屏蔽”机制的认知工具。

通过 RIGOL RSA5065N 不仅可在 GHz 级别进行高速信号分析，更能推开一扇窗，让你从频率的角度“看见”一块材料到底屏蔽了什么。

未来，这种快速、直观、结构化的屏蔽测试方式，或许会逐步替代低效、经验化的材料选型流程，成为研发与生产环节里强有力的数据依据。