电芯部分出现低容问题。首先确认分容工艺是否设置错误（比如放电电流、充电时间、截止电压和分容温度是否有异常）；①如果分容工步设置无问题，就需要更换测试点之后对电芯进行重新分容，查看是否为分容设备和通道出现了问题。②假设更换设备后分容数据没异常，那就是设备存在问题。③若复测之后依旧低容，那就可以确认低容问题真的存在了 。
1. 人（Man）可能原因：操作人员未按标准作业程序（SOP）操作，例如分容参数设置错误（如充电截止电压、电流设置偏低）。新员工培训不足，导致操作失误（如电池极性接反、夹具未压紧）。分容后电池静置时间不足，未充分释放极化电压。改进措施：复查SOP并强化操作培训，增加现场监督及考核。对异常批次的操作记录进行追溯，确认是否存在人为失误。引入防错机制（如扫码校验参数、设备自检报警）。2. 机（Machine）可能原因：分容设备（充放电柜）电流/电压精度偏差（未定期校准）。分容夹具接触不良，导致内阻升高或实际充放电电流不足。设备老化或散热不佳，导致测试过程中电流波动。改进措施：对分容设备进行全面校准，验证电流/电压的实际输出值。清洁或更换磨损的夹具触点，确保接触电阻＜1mΩ。检查设备散热风扇及电源稳定性，排除环境干扰。3. 料（Material）可能原因：电芯原材料问题：正极材料克容量偏低（如LCO、NCM批次差异）、负极压实密度过高导致锂离子嵌入困难。电解液不足或浸润不充分，导致有效锂离子迁移率低。隔膜孔隙率异常或厚度不均，影响离子电导率。改进措施：对低容电芯拆解分析，检查极片涂布均匀性、电解液浸润状态。追溯异常批次材料的供应商数据（如正极材料ICP分析、隔膜孔径测试）。优化注液工艺，延长浸润时间或增加高温静置步骤。4. 法（Method）可能原因：分容工艺参数设置不当（如充电截止电压低于设计值、放电倍率过高导致容量未完全释放）。化成工艺异常（如SEI膜过厚消耗活性锂）。分容前未进行预充电或老化流程，导致容量测试不准确。改进措施：验证分容程序参数是否与设计规格一致（如4.2V截止电压）。对比低容电芯与正常电芯的化成曲线差异（如恒流/恒压阶段时间）。优化分容前的静置或老化条件（如25℃下静置24小时）。5. 测（Measurement）可能原因：分容设备数据采集系统误差（如电流传感器漂移）。测试环境温度波动（如低温下电池实际容量下降）。容量计算公式错误（如积分时间间隔设置不合理）。改进措施：将低容电芯在其他分容柜复测，排除设备单机故障。监控分容车间温度并确保恒温（25±2℃）。核对容量计算软件逻辑（如Ah积分算法）。6. 环（Environment）可能原因：分容车间温湿度过高或过低（如温度＜15℃导致锂离子扩散速率下降）。车间洁净度不足，粉尘污染电池极耳或夹具。电池存储环境不当（如长期高温存放导致自放电加剧）。改进措施：加装温湿度监控及自动调控系统（推荐湿度＜30%RH）。升级车间洁净度至万级，定期清洁分容柜内部。缩短电芯分容前存储时间（＜7天），避免自放电累积。综合分析及验证建议：数据分层分析：统计低容电芯的分布规律（如设备编号、操作班次、材料批次），锁定共性因素。交叉实验：将异常电芯与正常电芯互换设备/工艺参数，验证问题复现性。拆解分析：对低容电芯进行拆解，检查极片、电解液、隔膜状态，确认是否存在微观缺陷（如析锂、枝晶）。通过以上系统性排查，可快速定位根本原因（如某批次正极材料克容量不足或设备电流漂移），并制定针对性纠正措施（如更换材料批次、校准设备）。
系统性排查
阶段一：快速数据收集与问题定位数据分层统计设备维度：统计低容电芯的分布是否集中在特定分容柜（如设备A出现30%低容，其他设备正常）。时间维度：分析低容电芯的生产日期/班次，是否与某次换班、参数变更或材料切换时间重合。材料批次：核查低容电芯是否来自同一批正极材料、电解液或隔膜供应商批次。操作人员：确认低容电芯是否由同一班组或新员工操作。横向对比分析选取正常电芯与低容电芯，对比以下数据：分容充放电曲线（恒流/恒压阶段时间、电压平台差异）。内阻、开路电压（OCV）、自放电率（K值）。极耳焊接电阻（若差异显著，可能为接触问题）。阶段二：分步排查与验证设备与参数验证设备校准：对分容柜进行电流/电压精度校准（例如用标准电阻和万用表验证实际输出与设定值是否一致）。夹具检查：测量夹具接触电阻（目标＜1mΩ），清洁氧化层或更换磨损触点。环境监控：记录分容车间温湿度数据（目标25±2℃、湿度＜30%RH），排除低温导致容量衰减。材料追溯与验证材料批次核查：调取低容电芯对应的正极材料ICP成分分析报告（如Ni/Co/Mn比例是否偏离规格）。电解液浸润检查：拆解低容电芯，观察极片和隔膜的浸润状态（若局部干燥，需优化注液工艺）。隔膜孔隙率测试：对异常批次隔膜进行SEM扫描或Gurley测试，确认孔隙率是否达标。工艺与操作复查SOP符合性检查：现场观察操作人员是否按标准设置分容参数（如充电截止电压4.2V、静置时间≥2h）。化成工艺复盘：检查低容电芯的化成曲线，确认SEI膜形成是否异常（如恒流时间过短导致活性锂损失）。静置时间验证：延长分容前静置时间至24小时，观察容量是否恢复（排除极化电压影响）。阶段三：交叉实验与根因确认复测与交叉实验设备互换：将低容电芯转移到其他分容柜复测，若容量正常，则原设备存在硬件故障。参数对比：在同一设备上分别运行标准参数和调整参数（如降低放电倍率），验证容量差异。材料替换实验：使用已知合格材料替换疑似异常批次材料，重新生产电芯并测试容量。拆解分析（破坏性检测）极片分析：测量低容电芯正/负极涂布面密度（如正极面密度偏低导致克容量不足）。SEM/EDS检测：观察正极材料颗粒形貌及元素分布（如材料团聚或杂质导致锂离子迁移受阻）。电解液成分检测：通过GC-MS分析电解液分解产物（如过量LiPF6分解消耗活性锂）。阶段四：闭环验证与标准化根本原因确认通过上述实验锁定关键因素（例如某批次正极材料克容量偏低、分容柜电流传感器漂移）。验证改进措施有效性（如更换材料后低容率从5%降至0.3%）。预防措施与标准化更新控制计划（如增加正极材料入厂克容量抽检比例）。建立设备定期校准制度（如每周用标准电池校验分容柜）。优化工艺参数（如延长电解液浸润时间至48小时）。排查工具推荐统计分析：使用Minitab进行柏拉图（Pareto）分析，识别主要低容贡献因素。DOE实验设计：针对多变量交互影响（如温度+静置时间），设计正交实验优化参数。8D报告：记录排查过程并形成闭环报告，避免问题复发。通过以上系统性排查，可高效定位问题根源（如材料批次异常或设备精度失控），并推动长期改进。
